bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500

bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500是全面的快速，非接觸式3D表面計量自動(dòng)化臺式系統。該系統集成了布魯克專(zhuān)有的自動(dòng)傾斜光學(xué)測頭，可以*編程并自動(dòng)測試一定角度范圍內的表面特征，并能大程度地減少跟蹤誤差。

滿(mǎn)足計量要求，具有Z軸分辨率和準確性，并在更小的占地面積內提供了布魯克的白光干涉儀落地式型號所有業(yè)界*的優(yōu)點(diǎn)。

借助其新的USI通用掃描模式，本產(chǎn)品可以輕松地針對各種復雜應用場(chǎng)景定制分析方法。這些場(chǎng)景涵蓋了從精密加工表面和半導體工藝制程，到眼科和MEMS器件的R＆D表征。

高級自動(dòng)化功能

專(zhuān)有的自動(dòng)傾斜測頭為生產(chǎn)和監測提供了靈活性。通過(guò)將自動(dòng)傾斜測頭與光學(xué)裝置耦合在顯微鏡上，布魯克實(shí)現了測試位置不受傾斜角度影響的測量。進(jìn)一步結合自動(dòng)樣品臺和物鏡塔臺，使得bruker布魯克三維光學(xué)輪廓儀ContourX-500非常適合“按需測量"工業(yè)要求，且占用空間小。

先進(jìn)的臺式三維形貌計量設備

與放大倍率無(wú)關(guān)的業(yè)界Z軸分辨率

高級自動(dòng)化功能，包含帶編碼器的XY軸樣品臺、自動(dòng)測頭傾斜和自動(dòng)亮度調整

更緊湊的氣動(dòng)減震臺設計

優(yōu)質(zhì)的測量與分析功能

易于使用的界面，可快速準確地獲得結果

廣泛的自動(dòng)化功能，可量身定制測量和分析程序

廣泛的濾鏡和分析工具

滿(mǎn)足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標準在內的定制化分析報告